139 Micron Amorf Silicium A-Si Gekrompen A-Si DR En Niet-Destructieve Testing
H3543HWF-AG Het is een draagbare draadloze platte detector op basis van amorfe siliciumoppervlaksensor, geschikt voor pijpleidinginspectie, industriële inspectie, niet-destructieve testen en andere gebieden
Sensor
Receptortype a-Si
Scintillator Gos
Actief gebied 350 x 430 mm
Resolutie 2560 x 3072
Pixelpitch 139 μm
Stroomvoorziening en batterij
Adapter in wisselstroom 100-240V,50-60Hz
Adapter uit DC 24V,2.7A
Verlies van vermogen < 20 W
Werktijd van de batterij 6,5 uur
Laadtijd 4,5 uur
Beeldkwaliteit
Beperkende resolutie 3,5 LP/mm
Energiebereik 40-350 KV
Dynamisch bereik ≥ 84 dB
Gevoeligheid ≥ 0,54 LSB/nGy
Ghos < 1% 1e beeld
DQE 42% @(1 LP/mm)
28% @(2 LP/mm)
MTF) 68% @(1 LP/mm)
38% @(2 LP/mm)
20% @(3 LP/mm)
Elektrische onderdelen en interface
A/D-conversie 16 bits
Gegevensinterface Gigabit Ethernet/802.11ac 5G
Verwerven tijd bedraad: 1s; draadloos: 2s
Exposure Control Software/buiten
Ingebouwd geheugen 4 GB DDR4, 8 GB SD-kaart
Mechanische apparatuur
Afmetingen 583 x 437 x 21,8 mm
Gewicht 4,5 kg
Materiaal Aluminium- en magnesiumlegeringen
Voorpaneel koolstofvezel
Milieuzaken
Temperatuur 10-35°C (operatie);-10~50°C (opslag)
Vochtigheid 30-70% RH (niet-condenserend)
Ingangsbescherming IP54
