X-Ray pijpleiding Crawlers Fabriek, Koop goede kwaliteit X-Ray pijpleiding Crawlers producten uit China

Ik ben online Chatten Nu

Contactpersoon :	JingAn Chen
Telefoonnummer :	8610 82921131,86 13261934319
WatAPP :	+8613910983110

Amorfe silicium sensoren Flat panel detector lichtgewicht geschikt voor detectie van hoge energie 15MV

139 Micron Amorf Silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR Niet-destructieve testen

MOQ: 1

Materiaal	met een vermogen van meer dan 50 W
Temperatuur	10-35°C (operationeel);-10~50°C (opslag)
luchtvochtigheid	30-70% RH (niet-condenserend)
Productnaam	DR Digitale platte paneeldetector
Receptortype	a-Si

Sensor op basis van amorfe silicium voor tandheelkundige beeldvorming en industriële inspectie

100 micron amorf silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR niet-destructieve testen

Crystal Orientation Indicator X van het de Buisvoltage van Ray Instrument 30kvp het Koperdoel met Anode

MOQ: 1pcs

Inputmacht	Enige fase AC220V、 50HZ、 0.3KW
Merk	HUATEC
Buisspanning	30KVP, schakelaar onder volledig voltage wordt gesloten dat
Buisstroom	0~5mA, ononderbroken regelbaar
Het digitale tonen	θ: graad、 minieme、 tweede; Minimumlezing van 10 ″

75 micron amorf silicium A Si Voor verschillende velden A Si DR Niet-destructieve testen

139 Micron Amorf Silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR Niet-destructieve testen

Sapphire Piezoelectric Crystal Optical Crystal-Halfgeleider X Ray Crystal Orientation Indicator Instrument

Enige Fase X Ray Instrument Crystal Orientation Indicator

Crystal Orientation Indicator X van het de Buisvoltage van Ray Instrument 30kvp het Koperdoel met Anode

1 2 3 4 Next > Last Total 4 page

Neem contact op

7e verdieping, Chengyuan Gebouw B, de Mid. Weg van Jiancaicheng Haidian Dist.BeiJing, CHINA 100096

export@huatecgroup.com

8610 82921131,86 13261934319

Over

Bedrijfsprofiel Fabrieksreis Kwaliteitscontrole Contacteer ons

Producten

Ultrasone Fout Detector Ultrasoon diktemeter Laagdiktemeter Alle categorieën

Mail ons

Laat ons uw vereiste weten. We zullen de beste producten met u verbinden.

X-Ray pijpleiding Crawlers

Ultrasone Fout Detector

Ultrasoon diktemeter

Laagdiktemeter

Draagbare hardheidsmeter

X-Ray Fout Detector

X-Ray pijpleiding Crawlers

Holiday Detector

Magnetisch onderzoek

Wervelstroom het Testen Materiaal

Penetrantonderzoek

Shore Durometer

Brinell hardheidsmeter

Rockwell hardheidsmeter

Micro vickers hardheidtester

Materieel Hardheidsmeetapparaat

Trillingen meter

Ruwheidstester

Profiel Projector

Glansmeters

Concrete geteste hamer

laser infrarood thermometer

Amorfe silicium sensoren Flat panel detector lichtgewicht geschikt voor detectie van hoge energie 15MV

139 Micron Amorf Silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR Niet-destructieve testen

Sensor op basis van amorfe silicium voor tandheelkundige beeldvorming en industriële inspectie

100 micron amorf silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR niet-destructieve testen

Crystal Orientation Indicator X van het de Buisvoltage van Ray Instrument 30kvp het Koperdoel met Anode

75 micron amorf silicium A Si Voor verschillende velden A Si DR Niet-destructieve testen

139 Micron Amorf Silicium A Si Voor verschillende gebieden zoals DR Niet-destructieve testen

Sapphire Piezoelectric Crystal Optical Crystal-Halfgeleider X Ray Crystal Orientation Indicator Instrument

Enige Fase X Ray Instrument Crystal Orientation Indicator

Crystal Orientation Indicator X van het de Buisvoltage van Ray Instrument 30kvp het Koperdoel met Anode